(来源:科技日报 科技日报)
◎ 科技日报记者 陆成宽
材料中几皮米的形变,虽然细小到不及头发丝直径的千万分之一,却能决定一枚芯片的性能。这种微小变化深藏在材料内部,难以观测,更无从触及。如何精准测量,便成了原子制造必须跨过的一道门槛。
近日,上海交通大学、国家纳米科学中心等单位的科研人员成功解决这一难题。他们利用一种由光与晶格振动形成的特殊波,打造出一把能感知原子级形变的“皮米尺”,把材料内部的层间形变转换成清晰的光谱信号。其探测精度达到10皮米,仅为所用红外光波长的约百万分之一。相关成果发表于《自然》。
声子极化激元技术探测层间形变的概念示意图。受访者供图编辑:宋慈
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